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September 16, 2025

Lam Research y JSR/Inpria firman un acuerdo de licenciamiento cruzado y colaboración para avanzar la fabricación de semiconductores

Author: Lam Research Corporation; JSR Corporation

Lam Research y JSR/Inpria firman un acuerdo de licenciamiento cruzado y colaboración para avanzar la fabricación de semiconductores

La competencia global para producir semiconductores avanzados ha alcanzado una nueva etapa, ya que Lam Research Corporation y JSR Corporation, junto con su unidad Inpria, anuncian un acuerdo de licenciamiento cruzado y colaboración destinado a acelerar la fabricación de semiconductores. El acuerdo se centra en la definición de patrones para chips de vanguardia, incluyendo esfuerzos en litografía EUV con resist seco y materiales de próxima generación. El anuncio presenta la asociación como un puente estratégico entre equipos, química y materiales—una alineación que busca reducir fricciones entre los titulares de la propiedad intelectual y los licenciatarios, al tiempo que acelera la transición desde el concepto en laboratorio hasta la producción a gran escala. En un mercado caracterizado por una demanda creciente, fragilidades de la cadena de suministro y una mayor complejidad de procesos, la capacidad de acceder a tecnologías críticas de procesos sin negociaciones de licencias prolongadas puede marcar una diferencia sustancial para los fabricantes de chips que buscan nodos agresivos. Lam Research proporciona las herramientas centrales de fabricación utilizadas en el patternado de vanguardia, mientras que JSR e Inpria aportan plataformas de materiales especializadas diseñadas para permitir un control más estricto de las características y un rendimiento robusto bajo exposición EUV. El programa conjunto, en su núcleo, es una apuesta por la velocidad, la predictibilidad y la escala: una vía para impulsar innovaciones desde el banco de pruebas hasta la fábrica con menos obstáculos y rutas de calificación más fiables.

Ubicado dentro del panorama más amplio de la litografía, el acuerdo reconoce la definición de patrones como el cuello de botella complejo que históricamente ha limitado la velocidad de progreso hacia transistores cada vez más pequeños. Los chips modernos requieren múltiples rondas de deposición, exposición y grabado, con tamaños de características que exigen tanto sistemas ópticos avanzados como materiales altamente adaptados. La litografía EUV con resist seco ha emergido como un punto focal importante porque promete integrarse con fuentes de luz de próxima generación mientras potencialmente reduce el uso de disolventes y la variabilidad del proceso en un entorno de alto rendimiento. El alcance de la colaboración también destaca materiales de próxima generación, como resistencias de óxido metálico y otras químicas avanzadas, que pueden proporcionar mayor resolución, mayor sensibilidad y mejor control de defectos. Juntos, Lam y JSR/Inpria podrían probar y refinar estos componentes bajo condiciones de proceso realistas, cerrando la brecha entre el concepto y la fabricabilidad. Al acoplar la propiedad intelectual a lo largo de la pila de litografía, las empresas pretenden reducir la incertidumbre que normalmente acompaña la introducción de nuevos materiales y flujos de proceso, entregando un rendimiento más confiable en distintas fábricas y para diferentes clientes.

Lam Research y JSR/Inpria colaboran para acelerar la definición de patrones en semiconductores de vanguardia.

Lam Research y JSR/Inpria colaboran para acelerar la definición de patrones en semiconductores de vanguardia.

Una piedra angular del acuerdo es un marco de licenciamiento cruzado que busca alinear la propiedad intelectual a lo largo de la cadena de litografía. Al permitir el acceso mutuo a patentes esenciales y conocimientos técnicos, la alianza pretende acortar los ciclos de desarrollo y reducir la necesidad de negociaciones de licencias a medida para cada proyecto. Este tipo de alineación de la PI es especialmente valioso en una industria donde el ritmo de la innovación se mide en meses, no en años, y donde las fabs deben calificar continuamente nuevos flujos de proceso para mantenerse competitivas. En la práctica, el licenciamiento cruzado puede acelerar la validación conjunta de conceptos de proceso—como esquemas de integración entre las herramientas de deposición y grabado de Lam y las químicas de resiste de JSR/Inpria—permitiendo pruebas en paralelo, bucles de retroalimentación más rápidos y hojas de ruta más predecibles. Aunque compartir PI puede plantear preguntas sobre gobernanza, confidencialidad y dinámicas competitivas, la lógica estratégica es simple: reducir el riesgo de que el acceso a una pieza crítica de PI se convierta en un factor limitante en el camino desde el concepto hasta la producción lista para la fábrica.

En el ámbito tecnológico, la colaboración pone énfasis en dos áreas interconectadas: la litografía EUV con resist seco y materiales de próxima generación. Se consideran enfoques de resist seco como una vía potencial para simplificar el proceso de litografía, evitando algunas preocupaciones de disolventes y residuos asociadas con la deposición tradicional de resist. A medida que la imagen EUV continúa avanzando—impulsada por longitudes de onda ultravioleta más profundas y una apertura numérica más alta—la compatibilidad de los nuevos resistes con las herramientas de Lam se vuelve cada vez más importante. De forma paralela, los desarrollos de la pila de materiales de óxido metálico y otros materiales avanzados de Inpria ofrecen la promesa de patrones más nítidos, menor rugosidad de borde de línea y un rendimiento más robusto a lo largo de dosis y variaciones de temperatura. El programa conjunto probablemente explorará la cooptimización de estrategias de exposición, el horneado posterior a la exposición y la compatibilidad de grabado para maximizar la fidelidad del patrón. Si tiene éxito, la alianza podría acortar el tiempo desde la demostración en laboratorio hasta la calificación de producción, ayudando a los clientes a realizar los beneficios de nodos más pequeños con menos sorpresas de integración.

En términos prácticos para los clientes—fabricantes de semiconductores y fundiciones—, el acuerdo de licenciamiento cruzado podría traducirse en ciclos de calificación más rápidos, mejor rendimiento y costos más predecibles para flujos de proceso avanzados. El ecosistema se beneficia de una menor fricción de PI, permitiendo que más proveedores participen en el desarrollo y la implementación de soluciones de patronado de próxima generación. Un panorama de PI más diverso y accesible también puede fortalecer la resiliencia frente a interrupciones del suministro, un factor que se ha vuelto cada vez más importante ante el aumento de la demanda global y las tensiones geopolíticas que afectan el suministro de materiales. El impacto de la colaboración dependerá de cómo se estructuren los términos de PI, de los mecanismos de gobernanza para garantizar un acceso justo y un equilibrio competitivo, y de la capacidad de Lam y JSR/Inpria para traducir la investigación conjunta en victorias de fabricación repetibles. Para los fabricantes de chips que evalúan inversiones en herramientas y materiales de próxima generación, un camino creíble y bien coordinado desde el diseño hasta la fábrica puede ser un factor decisivo al elegir proveedores y socios.

De cara al futuro, la cooperación Lam–JSR/Inpria señala un cambio más amplio en la industria hacia modelos integrados, tipo ecosistema, para la fabricación de semiconductores. El movimiento refleja una tendencia hacia una mayor alineación entre proveedores de equipos y desarrolladores de materiales, a medida que las fábricas buscan un control cada vez más estrecho de las ventanas de proceso y el rendimiento. Si los socios demuestran que su licenciamiento cruzado puede desbloquear mejoras de rendimiento tangibles—como mayor resolución con menor defectividad, ventanas de proceso más estables y una mayor compatibilidad con futuras fuentes EUV—el programa podría convertirse en una plantilla para alianzas similares en toda la pila de litografía. Los próximos pasos probablemente implicarán programas de trabajo por etapas, campañas conjuntas de calificación y estructuras de gobernanza que aseguren hitos transparentes y un acceso justo. El resultado podría influir en cómo los fabricantes de chips obtienen y validan pasos críticos del proceso, potencialmente modelando dinámicas de precios para los materiales de resiste y las estrategias de adquisición de herramientas de litografía. Aunque los detalles de los términos de PI siguen sin ser revelados, la lógica estratégica es clara: al entrelazar equipos, materiales y PI bajo una colaboración coordinada, la industria obtiene un camino más resistente, capaz y rápido hacia los chips sofisticados del mañana.

En última instancia, la importancia de este licenciamiento cruzado y colaboración va más allá de un solo comunicado de prensa. Representa una maduración más amplia del ecosistema de semiconductores: la convicción de que los avances en el rendimiento de los dispositivos requieren no solo mejoras incrementales en componentes individuales, sino también un enfoque integrado que una la diseño, la ciencia de materiales y las operaciones de fabricación. Si las capacidades de equipo de Lam pueden combinarse con los materiales de próxima generación de JSR/Inpria de una manera que genere ganancias demostrables en la fidelidad de patrones y el control de defectos, la industria podría ver una aceleración tangible en el ritmo de las transiciones tecnológicas. La gobernanza—hitos claros, métricas transparentes y compromisos compartidos—será esencial para garantizar que ambas partes obtengan un valor duradero de la alianza. Por ahora, el anuncio marca un momento notable en la evolución continua de la litografía—un área donde el progreso incremental se acumula para producir ventajas reales en los dispositivos semiconductores más avanzados del mundo.